重点实验室基金-61428020403-基于失效物理的气密封装电路贮存可靠性评价技术
发布时间：2017-05-19
对接截止时间：2017-06-19
点击数：1310
已对接企业数量：
功能用途
针对微电子器件贮存可靠性评价问题, 进行基于失效物理的气密封装电路贮存可靠性评价技术研究，研究封装材料内部气体释放的机理和模型，研究金属-玻璃气密间歇渗透退化机理和模型，研究气密封装电路长期贮存试验数据分析及贮存退化检测技术。
主要指标
联系人：王育新、蒲阳；办公电话：023-65861111、023-65861113；项目受理详细地址：重庆市沙坪坝区西永微电子园西永大道23号202楼
声明：本内容由军队相关单位提供，任何媒体、互联网站和商业机构不得擅自转载。